校验算法的测试方法、芯片、存储介质和家用电器技术

本申请公开了一种校验算法的测试方法、测试装置、存储介质和家用电器，该校验算法的测试方法包括：获取校验参数和输入数据；输入输入数据和校验参数至校验单元，得到校验结果；比对校验结果与标准结果，检测并确认校验结果与标准结果一致，输出测试通过；其中，标准结果基于输入数据和校验参数产生。通过上述方式，能够提高校验算法的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
校验算法的测试方法、芯片、存储介质和家用电器
本申请涉及校验测试
，特别是涉及一种校验算法的测试方法、芯片、存储介质和家用电器。
技术介绍
数据校验是为保证数据的完整性进行的一种验证操作。通常用一种指定的算法对原始数据计算出的一个校验值，接收方用同样的算法计算一次校验值，如果两次计算得到的检验值相同，则说明数据是完整的。常用的校验包括循环冗余校验(CyclicRedundancyCheck，CRC)、纵向冗余校验(LongitudinalRedundancyCheck，LRC)、奇偶校验和校验和等。在测试阶段，一般会通过编写测试用例的方式来对校验算法进行测试，由于校验算法的种类较多，且每一种校验算法对于不同的校验模式下具有不同的校验参数，因此，对于每一种情况单独编写一个测试用例较为繁琐。
技术实现思路
为解决上述问题，本申请提供了一种校验算法的测试方法、芯片、存储介质和家用电器，能够提高校验算法的测试效率。本申请采用的一个技术方案是：提供一种校验算法的测试方法，该方法包括：获取校验参数和输入数据；输入输本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种校验算法的测试方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取校验参数和输入数据；/n输入所述输入数据和所述校验参数至校验单元，得到校验结果；/n检测并确认所述校验结果与标准结果一致，输出测试通过；其中，所述标准结果基于所述输入数据和所述校验参数产生。/n

【技术特征摘要】
1.一种校验算法的测试方法，其特征在于，所述方法包括：
获取校验参数和输入数据；
输入所述输入数据和所述校验参数至校验单元，得到校验结果；
检测并确认所述校验结果与标准结果一致，输出测试通过；其中，所述标准结果基于所述输入数据和所述校验参数产生。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述获取校验参数和输入数据，包括：
获取测试任务；
获取与所述测试任务对应的校验参数，基于所述测试任务生成对应的输入数据。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，
所述获取测试任务以及对应的校验参数，包括：
构建参数结构体和校验类；其中，所述参数结构体包含所述校验算法所需要的校验参数，所述校验类用于定义所述测试任务；
基于所述测试任务确定检验模式；
将所述参数结构体中与所述校验模式相对应的校验参数，例化至所述校验类中。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，
所述构建参数结构体和校验类，包括：
基于UVM框架构建所述参数结构体和所述校验类。


5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，
所述方法还包括：
基于所述UVM框架构建标准校验函数；
利用所述标准校验函数对所述输入数据和所述检验参数进行校验运算，得到所述标准结果。


6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述检测并确认所述校验结果与标准结果一致之前，还包括：
预存所述标准结果。

【专利技术属性】
技术研发人员：刘凯，
申请(专利权)人：上海美仁半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31