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一种检测半导体器件的方法，包括在一段时间给半导体器件通以预定电平的电流脉冲之步骤，以使不合格部分老化，使合格部分稳定，及在加电流脉冲后，测量半导体器件的预定电或光工作特性之步骤。提供一种检测片子上半导体器件的系统，具有一个接触探头，用于把电...
该专利属于克里公司所有，仅供学习研究参考，未经过克里公司授权不得商用。

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