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一种分检装置，包括一个鼓形部件，上面具有分检通孔，通过与之相关联的闸板使得上述通孔有选择性地处开启或关闭，将经过检测装置检测的半导体器件顺序地存放在分检测通孔中，当分检通孔中的一个对准用于某一等级的存放箱时，将闸板开启，使半导体器件落入到该...
该专利属于日本电气株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过日本电气株式会社授权不得商用。

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