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一具有恒温室的ＩＣ测试处理机包括：６个行星式ＩＣ支持架７１；一行星式支持架排列机构７２；和一使机构７２间歇转动的间歇驱动机构。每个ＩＣ支持架相对行星轴７１ａ有４个旋转对称表面用作ＩＣ的支持部。ＩＣ支持架在机构７２内环状排列并绕一太阳轴７２ａ...
该专利属于株式会社信浓电子所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社信浓电子授权不得商用。

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