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采用制作在电路板上或在电路板中的若干试验结构在ＭＨｚ测量频率范围内确定板各绝缘层介电常数和／或损耗系数的方法，其中作为试验结构在电路板（１）上或在电路中至少制作一个试验谐振器（Ｒ），对每一个试验谐振器（ｅ）在其谐振频率（ｆＲ）所在的频带内确...
该专利属于西门子公司所有，仅供学习研究参考，未经过西门子公司授权不得商用。

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