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半导体器件试验装置制造方法及图纸
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文档序号:2637863
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一种IC试验装置,即使不准备各种安装IC插座的器件专用适配器,也能试验端子的突出长度不同的IC。器件专用适配器包括框状机座、多块插座板、多块绝缘板、连接板,在所述插座板上安装IC插座,在开口部中安装器件专用适配器,在检测部内配置IC插座。此...
该专利属于株式会社爱德万测试所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社爱德万测试授权不得商用。
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