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使用两个接触头在ＩＣ器件测试部分Ｅ和接触臂工作段ＳＴ３之间运送ＩＣ器件，把缓冲段ＳＴ４插入在接触臂工作段ＳＴ３、加载臂工作段ＳＴ１和卸载臂工作段ＳＴ２之间，并可在Ｘ方向上移动。在缓冲段ＳＴ２上设置加载缓冲运送器和卸载缓冲运送器，前者把未测试...
该专利属于株式会社爱德万测试所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社爱德万测试授权不得商用。

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