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用于测试多个ＤＵＴｓ（待测试器件）的半导体可靠性测试系统，其特征在于包括：一般为平面结构的插接板，板有第一表面，插接板有多个用于可拆卸地安置ＤＵＴｓ的备用位置，ＤＵＴｓ从表面向外延伸到边界，那些备用位置处于插接板表面的一个区域之内；和具有内...
该专利属于埃楚姆公司所有，仅供学习研究参考，未经过埃楚姆公司授权不得商用。

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