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一种电流测定方法，将被测定电流变换为电压信号，利用该电压信号对透过光调制器的光进行相位调制，使该相位调制了的光和未相位调制的光干扰得到干扰光，利用该干扰光的强度测定被测定电流；一种ＩＣ试验装置，使用该电流测定方法，测定流过被试验ＩＣ的电源端...
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