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集成电路的边界扫描测试系统技术方案
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文档序号:2637302
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边界扫描集成电路在两个专用引脚(测试数据输入(TDI)(16)和测试数据输出(TDO)(18)引脚)之间设置了多个新的寄存器(56,61,62,65,67)。这些寄存器包括地址寄存器(56)和可使用(IR)(23)中的地址指令由地址寄存器寻...
该专利属于爱特梅尔股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过爱特梅尔股份有限公司授权不得商用。
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