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一种测试电子元件的方法包括驱动测试装置的界面。该界面可以根据测试确定参数。该测试方法提出一个第一和唯一的学习阶段，在该阶段中确定一个可能最早的时间作为测量时间。然后该方法包括执行调整阶段，来确定在应用阶段中使用的调整测量时间。该调整阶段短、...
该专利属于索福特林克公司所有，仅供学习研究参考，未经过索福特林克公司授权不得商用。

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