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本发明的一实施方式所涉及的光学薄膜的检查方法具备：检测工序，向具有第1相位差层、第2相位差层和配置在第1相位差层以及第2相位差层之间的第1粘接层的光学薄膜(10)的检查面(10a)，从在检查面侧配置的光源部(21)照射检查光(L1)，并通过...
该专利属于住友化学株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过住友化学株式会社授权不得商用。

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