光学薄膜的检查方法以及光学薄膜的制造方法技术

本发明专利技术的一实施方式所涉及的光学薄膜的检查方法具备：检测工序，向具有第1相位差层、第2相位差层和配置在第1相位差层以及第2相位差层之间的第1粘接层的光学薄膜(10)的检查面(10a)，从在检查面侧配置的光源部(21)照射检查光(L1)，并通过在检查面侧配置的检测部(22)对从光源部照射并由光学薄膜反射出的光进行检测；以及判定工序，根据通过检测部检测出的光的亮度，取得沿着光学薄膜中的剖面的亮度分布，并根据亮度分布来判定光学薄膜是否为合格品。

【技术实现步骤摘要】
光学薄膜的检查方法以及光学薄膜的制造方法
本专利技术涉及一种光学薄膜的检查方法以及光学薄膜的制造方法。
技术介绍
作为光学薄膜，存在具有第1相位差层和第2相位差层的相位差层叠体。在相位差层叠体中，第1相位差层和第2相位差层隔着粘接层(例如由紫外线固化树脂粘接剂形成的层)而接合。相位差层叠体的示例是在有机电致发光(有机EL)图像显示装置中应用的圆偏振片(参照日本特开2018-17996号公报)。在将依次具有第1相位差层、粘接层以及第2相位差层的光学薄膜应用于例如图像显示装置的情况下，不断要求降低上述光学薄膜的干涉不匀。因此，在形成光学薄膜之后，进行与光学薄膜的干涉不匀的程度对应的合格与否的检查。通常，对光学薄膜照射光，并利用目视检查来进行该合格与否的检查。然而，在目视检查中，光学薄膜的合格与否容易依赖于检查者的主观、身体状况等，光学薄膜的性能的可靠性容易降低。
技术实现思路
本专利技术的目的是，提供一种能够实现性能可靠性的提高的光学薄膜的检查方法以及光学薄膜的制造方法。本专利技术的一侧面所涉及的光学薄膜的检查方本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学薄膜的检查方法，其中，/n具备：/n检测工序，向具有第1相位差层、第2相位差层和配置在所述第1相位差层以及第2相位差层之间的第1粘接层的光学薄膜的检查面，从在所述检查面侧配置的光源部照射检查光，并且通过在所述检查面侧配置的检测部对从所述光源部照射并由所述光学薄膜反射出的光进行检测；以及/n判定工序，根据通过所述检测部检测出的光的亮度，取得沿着所述光学薄膜中的剖面的亮度分布，并根据所述亮度分布来判定光学薄膜是否为合格品。/n

【技术特征摘要】
20190515 JP 2019-0919961.一种光学薄膜的检查方法，其中，
具备：
检测工序，向具有第1相位差层、第2相位差层和配置在所述第1相位差层以及第2相位差层之间的第1粘接层的光学薄膜的检查面，从在所述检查面侧配置的光源部照射检查光，并且通过在所述检查面侧配置的检测部对从所述光源部照射并由所述光学薄膜反射出的光进行检测；以及
判定工序，根据通过所述检测部检测出的光的亮度，取得沿着所述光学薄膜中的剖面的亮度分布，并根据所述亮度分布来判定光学薄膜是否为合格品。


2.根据权利要求1所述的光学薄膜的检查方法，其中，
一边输送所述光学薄膜，一边进行检测工序以及判定工序。


3.根据权利要求1或2所述的光学薄膜的检查方法，其中，
所述剖面是光学薄膜的宽度方向上的剖面。


4.根据权利要求1～3中任一项所述的光学薄膜的检查方法，其中，
在所述检测工序中，将来自所述光源部的所述检查光穿过第1偏振滤光片而照射到所述检查面，并且将从所述光源部照射到所述光学薄膜并由所述光学薄膜反射出的光穿过第2偏振滤光片，通过所述检测部来检测。


5.根据权利要求4所述的光学薄膜的检查方法，其中，
所述第1相位差层及所述第2相位差层中的一方是1/2波长层，另一方是1/4波长层，
在所述检查面虚拟地设定相互正交的x轴以及y轴，从所述检查面侧观察时将所述x轴以及所述y轴的一者设为基准轴，并将相对于所述基准轴逆时针旋转称为正角度方向，该情况下，
在所述光学薄膜配置有所述第1相位差层以及所述第2相位差层，以便所述第1相位差层的第1滞相轴以及所述第2相位差层的第2滞相轴满足下述条件(1)～(3)，
相对于所述光学薄膜配置有所述第1偏振滤光片以及所述第2偏振滤光片，以便所述第1偏振滤光片的...

【专利技术属性】
技术研发人员：川上武志，尾崎麻耶，曾我部里惠，
申请(专利权)人：住友化学株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP