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一种半导体测试系统，包括：模式存储器；评估ＤＵＴ输出信号的装置；数据失效存储器；和压缩装置，用于在第一次测试操作中将模式存储器的多个地址分配给数据失效存储器的一个地址，以便将每组多个地址发生的失效数据以预定的压缩比存储在数据失效存储器的相应...
该专利属于株式会社鼎新所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社鼎新授权不得商用。

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