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本发明涉及一种测试电路板的方法，其中的电路板具有导电路径，该导电路径的点构成电路板测试点，该方法至少包含下列步骤：光学测试该组电路板测试点中的短路及开路情形，且该光学测试方式可用于各扫描区中相关的导电路径，其中的扫描区中各有一组彼此紧靠的电...
该专利属于ATG试验体系两合公司所有，仅供学习研究参考，未经过ATG试验体系两合公司授权不得商用。

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