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本发明提供了一种可以使检测用芯片相对于作为检测对象的导电图形实施适当配置的检测装置。这种检测装置中的检测用芯片１上的电极连接部１ｂ，与壳体２上的引线２ａ相连接，而且在两者上均设置有突起电极３和４，这种检测装置还设有覆盖着突起电极３和４的各向...
该专利属于OHT株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过OHT株式会社授权不得商用。

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