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一种机械可适连接器，用于在微电子装置的接触焊点上形成可靠的电连接。连接器可用于晶片级的集成电路的强化试验。附加装置包括用于测试集成电路的探针板和用于倒焊芯片的插座。连接器的一种结构包括探针，每个探针具有凸出在薄细长弹簧８３上的针尖８１。弹簧...
该专利属于菲康姆株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过菲康姆株式会社授权不得商用。

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