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一种新的可变双观测点的时延测试方法，建立了可变双观测点的时延测试模型。被测电路的完全时延测试集是由通路集的一个最大线性无关组中每条通路的波形敏化测试图形构成的。对每一个测试，按照可变双观测点的时延测试模型工作的测试仪需要在电路的原始输出采样...
该专利属于中国科学院计算技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院计算技术研究所授权不得商用。

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