温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种电子元件能量冲击测试系统及方法，该系统包含一非破坏性电子元件测试模式、一破坏性电子元件测试模式及一程序控制结构；利用共用程序控制结构将非破坏性测试模式及破坏性测试模式整合于一测试系统，该非破坏性测试模式对所有产品进行结构品质...
该专利属于大冈科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过大冈科技股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。