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一种极弱微磁场的测量方法，特别适用于磁通量小于１０↑［－１５］韦伯的弱磁场的测量。待测样品是由磁性材料构成，厚度小于或等于５００纳米。首先将待测样品置于电子显微镜中拍摄待测样品的电子全息图。再将在电子显微镜中拍好的带有待测样品电子全息图的电...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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