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一种提高测试密度的测试方法，用以测试具有多数个待测点的特测物，包括下列步骤：提供多数个针体，至少一针体是以倾斜方式设置，电连接于特测物的待测点；提供多数个弹性元件，每一弹性元件设有第一端点及第二端点，第一端点是位于针体下方，每一针体具有弹性...
该专利属于吴志成;杨昌国所有，仅供学习研究参考，未经过吴志成;杨昌国授权不得商用。

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