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描述了一个在检验系统中使用的光学系统。光学系统包括一个成像系统，用于提供作为多光谱通带成像记录系统和一个照明系统，该系统包括至少一个同轴光和至少一个侧面光来提供光谱鉴别和提供由第一材料制成的第一表面和由不同的第二材料制成的第二表面之间的比较...
该专利属于泰拉丁公司所有，仅供学习研究参考，未经过泰拉丁公司授权不得商用。

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