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在半导体测试系统中利用通用操作系统生成具有高时间精度的序列技术方案
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下载在半导体测试系统中利用通用操作系统生成具有高时间精度的序列的技术资料
文档序号:2636110
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一种半导体测试系统,可以使用通用操作系统产生时间临界顺序,包括一个用于将电源和测试图提供给被测器件的测试仪硬件,一个由通用操作系统操纵的主机计算机,一个用于根据一个测试程序计算配置数据和定时数据的配置软件,一个用于给测试硬件提供电源触发器和...
该专利属于株式会社鼎新所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社鼎新授权不得商用。
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