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本发明涉及集成电路性能测量、试验技术，尤其是一种集成电路性能测量及电路实验装置。包括：基板，其上设有多个固定孔，上表面均设至少２个固定导槽；至少１块用于接插集成块和电子元件的母板，其上设有印刷线路用即导体；至少２个用于固定母板的固定块，插装...
该专利属于中国科学院海洋研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院海洋研究所授权不得商用。

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