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一种用于芯片老化测试的芯片摆盘装置制造方法及图纸
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下载一种用于芯片老化测试的芯片摆盘装置的技术资料
文档序号:26355496
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本发明提供了一种用于芯片老化测试的芯片摆盘装置,其能解决现有芯片摆盘机构存在的效率低的问题。机架平台上安装有沿纵向沿伸的治具板定位承载机构,治具板定位承载机构的纵向前端设有治具板上板机构、纵向后端设有治具板下板机构,治具板上板机构的纵向前侧...
该专利属于苏州欣华锐电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州欣华锐电子有限公司授权不得商用。
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