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所述电路结构包括具有可变电容的测量用电容器（Ｋ↓［Ｍ１］）、基准电容器（Ｋ↓［Ｒｅｆ１］）和缓冲放大器（ＯＶ↓［１］），所述测量用电容器（Ｋ↓［Ｍ１］）借助于待检测的物理被测量（ｐ）来设定。缓冲放大器（ＯＶ↓［１］）的输入至少暂时地与测量用...
该专利属于恩德莱斯和豪瑟尔两合公司所有，仅供学习研究参考，未经过恩德莱斯和豪瑟尔两合公司授权不得商用。

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