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一种测试结构将用于侵蚀评价的第一结构（１０１０）与用于提取缺陷尺寸分布的第二结构（１０００）结合起来。第一结构（１０１０）为可用于测定随金属高度而变化的电阻值的环结构。第二结构为ＮＥＳＴ结构（１０００）。环结构（１０１０）的环形线被连接到Ｎ...
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