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测试桥接电路的方法与装置制造方法及图纸
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文档序号:2635251
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本发明涉及一种测试桥接电路的方法与装置,该方法包含有输入一第一测试时钟至一第一转换单元以在该第一测试时钟的上升缘触发该第一转换单元,将一测试数据传递至一第二转换单元,输入一第二测试时钟至该第二转换单元以在该第二测试时钟的下降缘触发该第二转换...
该专利属于威盛电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过威盛电子股份有限公司授权不得商用。
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