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本发明涉及一种用于分析测量装置的测量电容（ＣＭ）的方法，其具有以下步骤：经第一充电时间（ｔｋ１，ｔｋ２）对所述电容（ＣＭ）充电，以及确定所述电容的电荷以作为第一个测量值（ｔｍ１）。为确定改变所述电容的基本状态的测量条件、例如相对于测量单元的...
该专利属于维加.格里沙伯股份公司所有，仅供学习研究参考，未经过维加.格里沙伯股份公司授权不得商用。

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