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一种非破坏性接触的检测方法，适于在一检测温度下检测一待测物的电气特性，其特征在于该非破坏性接触的检测方法包括以下步骤：　　　　提供一检测设备，其包括有一导体，其中该导体在该检测温度下呈液态；以及　　　　使用该导体接触于该待测物的表面，用以检...
该专利属于统宝光电股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过统宝光电股份有限公司授权不得商用。

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