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一种集成电路，其具有待测试的应用电路（１）和自测试电路（５－１６），该自测试电路被提供用于测试该应用电路（１）并且包括用于产生为测试目的施加到应用电路（１）的所需测试图样的装置（５－９），其中通过标记特征寄存器（１３）来评估依赖于通过应用电...
该专利属于NXP股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过NXP股份有限公司授权不得商用。

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