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用于保护芯片及检验其真实性的方法和装置制造方法及图纸
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下载用于保护芯片及检验其真实性的方法和装置的技术资料
文档序号:2634666
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半导体器件具有嵌入有磁性粒子的安全涂层和磁阻传感器。其提供了对于通过磁阻传感器和安全涂层限定的安全元件的阻抗的测量。如果存储了阻抗的初始值,可将实际值与其比较以看出器件是否未被电探查或修改。该比较可用于检验器件的真实性。...
该专利属于NXP股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过NXP股份有限公司授权不得商用。
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