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一种用于测试以两种基本结构配置的电子器件的测试系统。在一种结构中，接收器件单元（６０）的负载板（６２）直接固定到测试头（１６）。在另一种结构中，相同的负载板或主要具有测试头传输位置的相同图形的负载板通过接口设备（６６）耦接到测试头。探针系统...
该专利属于克莱登斯系统公司所有，仅供学习研究参考，未经过克莱登斯系统公司授权不得商用。

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