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本发明提供了一种用于测试电子电路（１００）和另一个电子电路的互连的测试配置。配置一个Ｉ／Ｏ节点（１２０）的第一选择以在电子电路（１００）的一个功能模式中接收输入数据，并在电子电路（１００）的测试模式中将Ｉ／Ｏ节点的第一选择与一个测试单元连接...
该专利属于NXP股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过NXP股份有限公司授权不得商用。

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