【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种电子电路，其包括多个输入/输出(I/O)节点，用于通过互连将所述电子电路与至少另一个电子电路连接；一个测试单元，用于在电子电路的测试模式中测试互连，所述测试单元包括一个具有多个输入和一个输出的组合电路，所述组合电路实现一个专用的逻辑功能；在测试模式中与测试单元逻辑连接的I/O节点，其中将I/O节点的第一选择配置为传送相应的输入信号并与组合电路的多个输入连接；以及一个I/O节点的第二选择包括第一节点，并将I/O节点的第二选择配置为传送相应的输出信号，第一节点与组合电路的输出耦合。如今，电子设备一般包括多个可安装在印刷电路板上的互连电子电路(例如集成电路、存储器设备等)。为了确保这些电子设备的结构完整性，电子电路之间的互连必须是可测试的。一种实现此互连测试的标准方法是借助于IEEE 1149.1标准，即边界扫描测试(BST)。按照此标准，在通过专用管脚提供给测试接入端口(TAP)控制器的测试信号的控制下的集成于测试接入端口控制器中的状态机的控制之下，使用专用硬件(诸如移位寄存器)扩展电子电路，BST提供一种通用和增强的测试电子电路互连的方法，该...
【技术保护点】
一种电子电路，包括： 多个Ｉ／Ｏ节点，用于通过互连将所述电子电路与至少另一个电子电路连接； 测试单元，用于在所述电子电路的测试模式中测试互连，所述测试单元包括具有多个输入和一个输出的组合电路，所述组合电路实现专用的逻辑功能； 所述Ｉ／Ｏ节点在所述测试模式中与所述测试单元逻辑连接， 其中： 配置所述Ｉ／Ｏ节点的第一选择以传送相应的输入信号，并将所述Ｉ／Ｏ节点的第一选择与所述组合电路的多个输入连接；以及 所述Ｉ／Ｏ节点的第二选择包括第一Ｉ／Ｏ节点，并配置所述Ｉ／Ｏ节点的第二选择以传送相应的输出信号，第一Ｉ／Ｏ节点与所述组合电路的输出连接； ...
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：LMA范德罗格特，FGM德永，
申请(专利权)人：NXP股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]
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