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本发明涉及用于测试集成电路的测试设备，该集成电路又被称为准备进行测试的电路，包含在被称为主电路的印刷电路中的多个外壳中的一个外壳。该设备包括柔性材料制成的绝缘薄膜，该薄膜具有由通孔相互连接的两个导电层覆盖的两个相对表面，并且在该测试过程所施...
该专利属于NXP股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过NXP股份有限公司授权不得商用。

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