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集成电路插座发运操纵封盖中的测试结构及测试方法技术
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文档序号:2634337
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本发明给出了一种能够测试通过电路组件的电通路的设备。该设备可以包括用于电路组件的插座的方便测试的发运及操纵封盖。该方便测试的发运及操纵封盖可以具有用于在测试期间电容性耦合到插座中的引脚阵列的导电层。本发明给出了一种用于测试通过电路组件的电通...
该专利属于安捷伦科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过安捷伦科技有限公司授权不得商用。
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