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一种测试电路包括：寄存器电路、ＴＡＰ控制器、图形生成电路和数据比较器；其中在数据按照复位指令被清除之后，数据被写入寄存器电路，寄存器电路在随后的复位指令输入之前保持该写入的数据；ＴＡＰ控制器接收用于选择测试模式的信号，并按照用于选择测试模式...
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