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本发明涉及集成电路技术领域，提供一种芯片测试系统、测试方法、芯片的测试响应方法和芯片，芯片测试系统包括：测试设备和切换装置；其中，切换装置包括第一至第三组通信接口；第一组通信接口与测试设备电连接，第二和第三组通信接口分别用于与被测芯片中的第...
该专利属于上海美仁半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海美仁半导体有限公司授权不得商用。

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