【技术实现步骤摘要】
芯片测试系统、测试方法、芯片的测试响应方法和芯片
本专利技术涉及集成电路
，尤其涉及一种芯片测试系统、测试方法、芯片的测试响应方法和芯片。
技术介绍
管脚的输入特性主要包括其对输入的模拟电压的跳变点。在测试管脚的输入特性时，需要测试设备给被测管脚一个模拟电压信号，然后从芯片中读取该管脚的状态，而从芯片中读取管脚的状态，势必需要用到芯片的其他管脚。当需要对芯片的所有管脚进行测试时，相关技术需要把被测芯片的管脚分组进行测试，分组测试占用测试流程，且对于不同的芯片，还需要人工对测试设备的程序进行修改，使得整个测试方法高度依赖测试人员的技术素养，测试效率低。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种芯片测试系统，以实现通用的全自动化测试。本专利技术还提出一种芯片管脚输入特性的测试方法。本专利技术还提出一种芯片的测试响应方法。本专利技术还提出一种芯片。本专利技术还提出一种家用电器。根据本专利技术第一方面实施例的芯...
【技术保护点】
1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：/n测试设备和切换装置；/n其中，所述切换装置包括第一组通信接口、第二组通信接口和第三组通信接口；所述第一组通信接口与所述测试设备电连接，用于接收所述测试设备发送的指示被测管脚的测试信息，所述第二组通信接口用于与所述被测芯片中的第一组管脚电连接，所述第三组通信接口用于与所述被测芯片中的第二组管脚电连接；/n所述切换装置用于基于所述测试设备发送的控制指令，控制在第一连通态和第二连通态之间进行切换；其中，所述第一组通信接口与所述第二组通信接口电连接的情况下为所述第一连通态，在所述第一连通态下，所述被测芯片中除所述第一组管脚外的其他所有管脚...
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：
测试设备和切换装置；
其中，所述切换装置包括第一组通信接口、第二组通信接口和第三组通信接口；所述第一组通信接口与所述测试设备电连接，用于接收所述测试设备发送的指示被测管脚的测试信息，所述第二组通信接口用于与所述被测芯片中的第一组管脚电连接，所述第三组通信接口用于与所述被测芯片中的第二组管脚电连接；
所述切换装置用于基于所述测试设备发送的控制指令，控制在第一连通态和第二连通态之间进行切换；其中，所述第一组通信接口与所述第二组通信接口电连接的情况下为所述第一连通态，在所述第一连通态下，所述被测芯片中除所述第一组管脚外的其他所有管脚作为被测管脚，所述第一组管脚作为通信管脚；所述第一组通信接口与所述第三组通信接口电连接的情况下为所述第二连通态，在所述第二连通态下，所述第一组管脚作为被测管脚，所述第二组管脚作为通信管脚。
2.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述测试设备具体用于，
在所述第一连通态下，若确定所述测试信息所指示的并非所述第一组管脚，则对除所述第一组管脚外的其他管脚基于所述测试信息进行测试；或
在所述第一连通态下，若确定所述测试信息所指示的是所述第一组管脚，则向所述切换装置发送所述控制指令，切换至所述第二连通态下对所述第一组管脚进行测试；或
在所述第二连通态下，若确定所述测试信息所指示的并非所述第二组管脚，则对除所述第二组管脚外的其他管脚基于所述测试信息进行测试；或
在所述第二连通态下，若确定所述测试信息所指示的是所述第二组管脚，则向所述切换装置发送所述控制指令，切换至所述第一连通态下对所述第二组管脚进行测试。
3.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述切换装置还包括控制接口，用于与所述测试设备电连接，接收所述测试设备发送的所述控制指令。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的芯片测试系统，其特征在于，所述切换装置为继电器。
5.一种使用如权利要求1-4中任一项所述的芯片测试系统的芯片管脚输入特性的测试方法，其特征在于，包括：
所述测试设备通过所述第一组通信接口向被测芯片发送测试信息；
若确定所述测试信息所指示的管脚为通信管脚，则向所述切换装置发送所述控制指令，切换所述切换装置的连通态；
若确定所述测试信息所指示的管脚为并非通信管脚，则对所述测试信息所指示的管脚进行测试。
6.根据权利要求5所述的芯片管脚输入特性的测试方法，其特征在于，所述确定所述测试信息所指示的管脚为通信管脚，包括：
在目标时间内，未接收到从所述被测芯片发送的反馈信息，确定所述测试信息所指示的管脚为通信管脚。
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【专利技术属性】
技术研发人员：刘凯，
申请(专利权)人：上海美仁半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
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