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一种喷气散热的半导体检测用探针座制造技术
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文档序号:26341148
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本发明公开了一种喷气散热的半导体检测用探针座,探针座本体包括一对前后对称设置的外支撑板;一对外支撑板上端之间成型有开口朝上设置的“凵”字形状的放置架;放置架的一对竖直部中心之间设置有测试座;放置架的水平部内成型有矩形槽状的吹气槽;吹气槽的上...
该专利属于张勇所有,仅供学习研究参考,未经过张勇授权不得商用。
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