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本发明公开了一种对异步通讯芯片实现多芯片并行测试的方法，通过对所有被测元件的响应按照一定的频率进行数据采样，将所有响应的数据样本采下，并根据样本数据的具体情况，选择适当的方式进行数据整理，从而得到实际的响应，并同时对其进行合格／故障判断。采...
该专利属于上海华虹NEC电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹NEC电子有限公司授权不得商用。

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