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本发明提供一种能测定无延迟量的正确的时间的半导体装置。存储器、逻辑电路混载ＬＳＩ（１０）形成测试用的输入输出路径，在存储器（１２）具有的存储器输入输出部（４８）中设置带测试功能的输入输出选择部（５２），使用在测试模式下直接供给的时钟信号ＴＣ...
该专利属于冲电气工业株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过冲电气工业株式会社授权不得商用。

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