下载利用气流系统测量未封装的IC器件的测试装置及其测试方法的技术资料

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一种用于测试未封装的DUTs(4)的装置/测试处理机(1)利用气流系统可以避免测试过程中人和材料对DUTs(4)的接触。为了测试的进行,节约拉模铸造成本,在所述装置/测试处理机(1)上进行测试时DUTs(4)是未封装的。真空用于对DUTs(...
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