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在扫描测试电路设计中，在时钟树Ｔ的每个最后级元件１０１ｆ中，使由该最后级元件１０１ｆ所驱动的多个触发器电路互相串联（１０２ａ互相串联、１０２ｂ互相串联、１０２ｃ互相串联…），构成子扫描链。然后，使从时钟树Ｔ的时钟供给点Ｓ算起的相对级数差最小...
该专利属于松下电器产业株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过松下电器产业株式会社授权不得商用。

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