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用于集成电路测试的内部参考电压产生制造技术
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下载用于集成电路测试的内部参考电压产生的技术资料
文档序号:2633370
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公开了一种或多种方法,提供电源电压给集成电路,将所述集成电路设置成测试模式以选择集成电路上的多个参考电压发生器中的一个来给集成电路上的另一个电压发生器提供参考电压,该参考电压至少部分地依赖于所述电源电压,并利用提供给该另一个电压发生器的参考...
该专利属于因芬尼昂技术股份公司所有,仅供学习研究参考,未经过因芬尼昂技术股份公司授权不得商用。
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