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使用内置于芯片的实速逻辑－ＢＩＳＴ，逻辑模块和具有芯片内部逻辑门的宏接口的自动故障测试的系统和方法。在初始化内部存储元件之后，产生一组测试信号并被该逻辑模块处理。该逻辑模块的输出被累积到一个标记并与参考标记相比较以检测故障。可以使用简单的测...
该专利属于创世纪微芯片公司所有，仅供学习研究参考，未经过创世纪微芯片公司授权不得商用。

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