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具有测试焊盘结构的集成电路以及测试方法技术
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文档序号:2633204
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半导体器件(10)在外围具有大量用于金属丝键合的键合焊盘(24)。半导体器件(10)具有模块(12)以及其它电路,但模块(12)比其它电路需要明显地更长的时间来测试。至少部分地由于具有内建自测试(BIST)(16)电路的半导体器件,模块测试...
该专利属于飞思卡尔半导体公司所有,仅供学习研究参考,未经过飞思卡尔半导体公司授权不得商用。
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