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一种测试装置，用于测试电子元件，本测试装置包括：多个测试模组、基准时脉产生部、产生电路、多个时序提供部，以及控制部。多个测试模组是把用于测试电子元件的测试图案供给至电子元件。基准时脉产生部是用以产生基准时脉。产生电路是根据基准时脉，产生使测...
该专利属于爱德万测试株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过爱德万测试株式会社授权不得商用。

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