下载半导体试验装置的校准方法的技术资料

文档序号:2632994

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本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下,在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方...
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